| 深圳賽普思科技有限公司
主營產品: XRD,SEM,SAM,LIBS |
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主營產品: XRD,SEM,SAM,LIBS |
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X射線衍射殘余應力分析儀 參考價:面議
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缺陷分析-超聲波掃描顯微鏡(SAM) 參考價:面議
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形貌分析-多功能電子顯微鏡(TEM-SEM) 參考價:面議
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晶體結構分析-便攜式X射線衍射儀(XRD) 參考價:面議
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成分分析-激光拉曼光譜分析儀(RAMAN) 參考價:面議
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元素分析-激光誘導擊穿光譜分析儀(LIBS) 參考價:面議
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大型二次離子質譜 IMS 1280-HR 參考價:面議
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二次離子質譜 IMS 7f 參考價:面議
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LVEM5透射顯微鏡 參考價:面議
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高分辨率二次離子質譜NanoSIMS 50L 參考價:面議
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LVEM5掃描電子顯微鏡SEM 參考價:面議
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X射線衍射殘余應力分析儀 參考價:面議
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形貌分析-多功能電子顯微鏡(TEM-SEM) 參考價:面議
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缺陷分析-超聲波掃描顯微鏡(SAM) 參考價:面議